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[代理] 兩探針電阻率測試臺(SZT-K型兩探針電阻率測試臺)
SZT-K1型兩探針電阻率測試臺,是用來裝夾棒類樣品(圓或方截面),連接四探針測試儀器,進行兩探針法電阻率測試的機具。是兩探針法測試電阻率儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,GBT 24...
更新:2013-05-28
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[代理] 薄膜方阻直線四探針測試探頭(ST2258B-F01 型薄膜方阻直線四)
ST2258B-F01 型薄膜方阻直線四探針探頭,直線2+2+2 mm針距,有球形尖鍍金磷銅合金探針,配以四探針儀器和測試臺,用以測試柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。
更新:2013-05-28
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[代理] SZT-A型四探針測試臺(SZT-A型四探針測試臺)
SZT-A型四探針測試臺,是用來裝夾四探針探頭,連接四探針測試儀器,放置樣品,進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻(方阻)儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。
更新:2013-05-28
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[代理] 四探針電動測試臺(SZT-B型四探針電動測試臺)
SZT-B型四探針電動測試臺,是用來裝夾四探針探頭,連接四探針測試儀器,放置樣品,進行自動/手動方式測試樣品電阻率/方阻的機具。是四探針法測試電阻率/方電儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。
更新:2013-05-28
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[代理] SZT-C型四探針測試臺(SZT-C型四探針測試臺)
SZT-C型四探針測試臺,是用來裝夾四探針探頭,連接四探針測試儀器,放置樣品,進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻(方阻)儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。
更新:2013-05-28
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[代理] 半導體粉末電阻率測試臺(SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺)
SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺,是連接四探針測試主機,用來裝夾半導體粉末(含高分子粉末和金屬粉末等),進行壓力施加(壓片),并同步進行電阻率測試的裝置(以下簡稱測試臺)。是四端子法測試粉末電阻率的必備配套單元。
更新:2013-05-28
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[代理] M-2型手持式數字式四探針測試儀(M-2型)
M-2型手持式數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
更新:2013-05-28
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[代理] 金屬質量電阻率測試臺(SZT-H型)
SZT-H型金屬質量電阻率測試臺 配以四探針儀器構成成套測試系統,是運用四端子測量原理的專業測量金屬箔類(質量)電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置。(以下簡稱測試臺)
更新:2013-05-28
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[代理] 橡塑材料電阻率測試臺(SZT-G型)
SZT-G型橡塑材料電阻率測試臺,配以四探針儀器構成成套測試系統,是運用四端子測量原理的專業測量橡塑材料或半導體薄膜的電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置.(以下簡稱測試臺)
更新:2013-05-28
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[代理] 光伏電池片四探針測試臺(SZT-F型)
SZT-F型光伏電池片四探針測試臺,配套自帶四探針探頭,連接四探針測試儀器后,可自動/手動方式測試樣品方阻/電阻率。是四探針法測試光伏電池片方阻、電阻率的專業配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。
更新:2013-05-28
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[代理] 超高阻微電流測試儀(ST2254型超高阻微電流測試儀)
ST2254型超高阻微電流測試儀(高阻型體電阻率表面電阻率測試儀)是運用環形三電極法原理測量固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測量裝置,也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。該儀器設計符合國家標準GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》。
更新:2013-05-28
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[代理] 四探針粉末電導率測試儀(ST2253型)
ST2253 型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量半導體材料的電阻率,測量擴散層的薄層電阻(亦稱方阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量。
更新:2013-05-28
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[代理] 多功能數字式四探針測試儀(ST2258A型)
ST2258A型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。 本測試儀特贈設測試結果分類功能,***大...
更新:2013-05-28
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[代理] 數字式四探針測試儀(ST2258A型)
數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
更新:2013-05-28
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[代理] 超高阻微電流測試儀(ST2255型超高阻微電流測試儀)
超高阻微電流測試儀是運用環形三電極法原理測量固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測量裝置,也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。該儀器設計符合國家標準GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》。 超高阻微電流測試儀成套組成:由主機、標...
更新:2013-05-28
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